幼儿颊黏膜脱落细胞钙离子含量与龋病活跃性检测结果的关系

　　目的探讨幼儿颊粘膜脱落细胞钙离子含量与幼儿患龋状况以及幼儿龋病活跃性检测结果的关系。方法将50例3～5岁幼儿根据龋蚀指数分为两组：龋病高危组26例、无龋组24例。采用Dentocult SM、Dentocult LB、Cariostat、SCAT 4种方法对幼儿进行龋病活跃性检测。取幼儿颊黏膜脱落细胞，Fluo-3染色，用激光扫描共聚焦显微镜检测细胞内Ca2+的荧光强度值，统计分析其与龋病活跃性的关系。结果高危组幼儿Ca2+荧光强度低于无龋组（P＜0.01）；高危组幼儿颊黏膜内Ca2+的荧光强度与dft、CSI均呈直线负相关关系（均P＜0.01）；3岁组Ca2+荧光强度高于5岁组（P＜0.05）；Ca2+荧光强度分别与Dentocult SM、Dentocult LB及SCAT结果呈等级负相关关系（P＜0.05或0.01）。结论3~5岁幼儿颊黏膜钙离子荧光强度与患龋状况具有一定的相关性，龋坏程度重则细胞内钙离子荧光强度低。幼儿颊黏膜细胞内钙离子的荧光强度可作为筛选龋病易感儿童的一项参考指标。