低剂量辐射对X线工作者晶状体损伤效应探讨#

目的：分析研究低剂量辐射对X线工作者晶状体损伤效应。方法：对2012年和2015年医用X线工作者的晶状体给予调查（研究组），而且检测以及统计个人受照累积剂量、工龄以及晶状体混浊部位，同时和接触照X线的人员（对照组）进行对比。结果：研究组晶状体混浊随着工龄增长而增高，与对照组之间的差异具有统计学意义（P＜0.05）；随着累积剂量的增高，而晶状体的混浊率成递增趋势；晶状体混浊的部位全部以皮质混浊为主，差异具有统计学意义（P＜0.05）。结论：低剂量辐射致晶状体的混浊随着工龄增长以及累积剂量增加而增长，受损部分主要为后皮质，因此，应增强放射防护。