苹果糖度无损检测模型研究

[目的]对套袋和不套袋苹果分别建立反射光谱与糖度预测模型,并对模型的精度进行比较分析,为构建苹果品质分级系统提供理论支撑.[方法]采用美国ASD公司的便携式光谱仪和数显折光计分别测量套袋和不套袋烟富3号红富士苹果,以苹果赤道位置4个取样点的反射率光谱和对应位置的糖度为数据源,原始光谱经多元散射校正后,与糖度数据一同用偏最小二乘回归算法,分别建立套袋和不套袋苹果的反射率光谱糖度模型,进行糖度预测.[结果](1)套袋苹果校正集相关系数Rc=0.76,均方根误差RMSEP=0.837 5 Brix;预测集相关系数Rv=0.72,均方根误差RMSEP=0.870 2 Brix;(2)不套袋苹果校正集相关系数Rc=0.69,均方根误差RMSEP=0.904 0 Brix;预测集相关系数Rv=0.63,均方根误差RMSEP=0.913 4 Brix.[结论]不套袋苹果的模型精度低于套袋苹果模型精度.相对复杂的表面情况导致不套袋苹果模型精度较差,不套袋苹果的无损检测误差会高于套袋苹果.