单O型圈密封结构中双层密封泄漏机理研究

Chong-wu GUO,Li-chen SUN,Li-zhi SUN,Fei-fei QI,Wen-bin LI

Vacuum（2018）

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Abstract

某航天单O型圈密封结构单机产品真空检漏试验中,漏率曲线持续缓慢上涨并出现"尖角"现象,类似典型双层弹性密封现象,此现象影响检漏结果的可靠性,因此弄清楚这一现象对后续的检漏试验是非常必要的.本文建立了双密封结构泄漏过程的数学模型,从而在理论上解释了此类现象发生的原因,并设计了实验工装,对实验结果进行了现象分析.这对后续的检漏试验具有一定的指导意义.

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