Bi2223/Ag带双饼线圈失超电压耦合补偿测试张京业,陈敬林,许爱霞,张勇,陈治友,王福堂,丁立人,高秉钧CRYOGENICS(2003)引用 0|浏览6暂无评分摘要为排除双饼线圈两端的自感电压对其失超信号的影响,把它降低到测量所允许的范围内,本文介绍双饼线圈外加补偿线圈的耦合测试原理和在此基础上制成的Ic测试装置.分别对研制的9个高温超导双饼线圈的Ic进行测试,获得非常好的实验结果,为将9个双饼线圈组合成磁体提供了依据.更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要