高频磁损测试平台正弦激励源设计

为了获得磁芯在不同频率和磁通密度下的正弦激励损耗，高频磁损测试平台系统应能够可靠有效地调节激励波形频率和幅值。研究基于直接数字合成技术AD9834芯片产生所需频率的正弦信号，并通过与DAC芯片AD5620结合调制正弦信号源的幅值，单片机可通过SPI三线串口对信号源进行实时调节。实验结果表明，该系统可以得到幅值、频率连续可调的正弦波，输出频率范围宽，稳定性好，可以为高频磁芯损耗测试平台提供可靠的正弦信号源。