双密封结构泄漏过程浅析
Vacuum and Cryogenics（2001）
Abstract
用氦质谱加压真空法检测双密封结构产品漏率时 ,常有“缓慢升高”现象的发生 ,必需解决这一读数困难的问题。建立了双密封结构泄漏过程的数学模型 ,从而在理论上解释了此类现象发生的原因 ,并编制程序后对一些具体结构进行了分析计算。这对确定检漏时间和相应的数据处理方法有一定的指导意义
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