一种用于波长色散X射线荧光光谱仪的流气式正比计数器的研制

流气式正比计数器(F-PC)是波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)常用的探测器.传统的F-PC一般采用1～6μm的镀铝聚丙烯薄膜作为光窗,采用模拟运放进行信号放大,存在X射线透过率低、光窗耐久度差、信号放大倍数不可调等问题.基于具有金属网格支撑的0.6μm镀铝聚丙烯膜、数字可调信号放大技术,研制了一种可在真空中使用的F-PC,提高了X射线透过率和薄膜的耐久度,实现了阳极脉冲信号放大倍数连续可调.将上述F-PC用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪,依照国家计量检定规程JJG 810—1993对整机进行了精密度、稳定性、探测器分辨率的考察.精密度考察发现,纯铝块样品中AlKα计数值的相对标准偏差(RSD,n=20)为0.086％;稳定性考察发现,铬镍不锈钢块样品中NiKα计数值的相对极差(n=400)为0.193％;使用纯铝块样品计算F-PC能量分辨率R为39.03％.以上结果均达到该检定规程中A级指标要求.