硫化和硒化对Cu/Sn/ZnS预置层薄膜结构和性能的影响
Ordnance Material Science and Engineering（2018）
摘要
采用磁控溅射法沉积Cu/Sn/ZnS预置层薄膜,经硫化和硒化热处理制备Cu2ZnSnS4和Cu2ZnSnSe4薄膜,研究两种热处理方式对薄膜的结构、形貌及性能的影响.结果表明:硫化和硒化热处理制备的Cu2ZnSnS4和Cu2ZnSnSe4薄膜均为单一锌黄锡矿结构;两种薄膜表面及横截面的颗粒致密且均匀,硒化后薄膜的颗粒尺寸和横截面的附着力均优于硫化后的;预置层经硫化及硒化热处理后薄膜的带隙分别为1.58、1.43 eV,硒化后薄膜的带隙明显小于硫化后的.
更多AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要