500kV断路器断口电容及介损测量影响因素研究
Power Capacitor & Reactive Power Compensation（2019）
Abstract
500kV断路器的断口电容和介质损耗因素tanδ是反映设备运行状态的重要参数,需定期进行例行试验,但试验数据易受到现场条件影响.某次试验现场分合指定开关后,采用无屏蔽线的正接线测得的断口电容与介损值远超规定的限值范围,根据静电声源初步判定是相邻间隔的感应电压影响,并同时考虑油漆层电阻的影响.采用ATP-EMTP软件对这两种因素进行了仿真建模计算,结果表明,断口电容和介损值与感应电压呈线性关系,并随感应电压相位变化而上下振荡;正常情况下,油漆层和氧化层产生的接触电阻对电容值测量结果产生的影响很小,可忽略不计.本文所得研究成果对变电站现场电气设备试验具有一定的参考意义.
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