GIS套管放电性缺陷带电检测分析Fuyong HUANG,Lipeng SUN,Bo XU,Xiaoli DUAN,Shuifeng WUHunan Electric Power(2016)引用 0|浏览6暂无评分摘要本文介绍了GIS套管常见的放电性缺陷,以及带电检测方法和原理,分析了放电性缺陷产生的原因.结合一起GIS套管外部放电性缺陷,利用红外测温、 超声波法和特高频法进行了综合诊断,并对缺陷部位、 缺陷原因和治理措施进行了分析.更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要