PIXE用于北京市新镇地区大气颗粒物污染特征和来源解析研究

为研究北京市新镇地区大气颗粒物的污染特征及其来源,于2015年12月～2017年12月间以每周两次的频率采集颗粒物样品.利用质子激发X射线荧光分析(Proton Induced X-ray Emission,PIXE)测定了140个样品中的Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、As、Pb共16种元素的含量,并对主要的污染元素进行特征分析.结果表明:S、Cl、Cu、Zn、Pb在细颗粒物中占比较大且相关性较强,Mg、Al、Si、Ca、Ti、Fe则主要存在于粗颗粒物中并存在强相关性;污染时期细颗粒物中S、Cl、K、黑碳(Black Carbon,BC)和粗颗粒物中Si、Ca、Fe上升明显.正矩阵因子分析(Positive Matrix Factor Analysis,PMF)得到该地区存在的6种主要污染源:次级硫(34.70％)、建筑工业(24.39％)、含氯工业(13.05％)、土壤扬尘(12.81％)、交通排放(11.63％)和其他污染(3.42％).