CCD 探测器的相对探测效率标定

探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数，需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备，以其配有的高纯锗探测器为标准，对低能X射线望远镜的CCD探测器进行探测效率的相对标定，得到在6．7、8．3、9．1、9．7、10．4、11．9和13．3 keV七个能量点CCD探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。