加速器单粒子效应样品温度测控系统研制及实验应用

Atomic Energy Science and Technology（2015）

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摘要

为满足国内半导体器件单粒子效应(SEE)截面与温度的关系研究需求 ,本文基于北京 HI-13串列加速器SEE辐照实验终端研制了样品温度测控系统 ,实现了90~450 K范围内实验样品温度的测量和控制 ,系统控制精度好于± 1 K.为验证系统可靠性 ,使用该系统研究了SRAM 单粒子翻转(SEU )截面随温度的变化关系 ,在215~353 K 范围内测量了 SRAM 翻转截面随温度的变化曲线.结果表明 , SRAM SEU截面随温度的升高而增加 ,与理论预期结果一致.

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