不溶物在盘形悬式绝缘子污秽试验中的影响研究
Insulators and Surge Arresters（2016）
Abstract
针对不溶物在盘形悬式绝缘子污秽试验中的作用,对型号为CA-872EX、FC12P/146和FC120/146盘形绝缘子进行了人工污秽试验(固体层法).本文认为污闪电压随灰密增加而下降(等值盐密恒定为0.1 mg/cm2),下降的特征与与绝缘子伞形和不溶物的比表面积有关,当灰密超过1.0 mg/cm2～1.5 mg/cm2,污闪电压下降趋于缓和,传统的钟罩型绝缘子(对比同等级普通型绝缘子)对于污秽中灰密增加敏感,抗高灰密能力不佳,比表面积也是引起污层吸附与瓷件或者结块的重要原因,当泄漏电流硅藻土中达到38.4 mA/cm2,会产生电弧进而导致硅藻土产生明显的结块现象.
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