一种Brokaw带隙基准结构下的过温保护电路设计
Electronic Measurement Technology（2019）
Abstract
设计了一种基于Brokaw带隙基准结构下的高精度过温保护(OTP)电路.通过基准电路中两个三极管VBE的差值产生一个正温度系数的电压,将其看作一个正温度系数的传感器实现对温度变化的检测.该电路利用基准与电阻分压得到两个零温度系数的电压,通过二选一传输门改变比较器的阈值,实现具备温度迟滞效应的OTP电路系统.基于0.18μm BCD工艺,利用hspice软件进行模拟验证,结果表明,在典型工艺角下,当温度高于125℃时,电路输出高电平的控制信号,芯片停止工作;当温度低于92℃时,控制信号跳变回低电平,芯片正常工作,具有33℃的迟滞量.电源在3～5.5 V范围波动时,电路的温度保护阈值和迟滞量误差不超过0.06℃.
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