一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路
Microelectronics & Computer（2018）
Abstract
为了对反熔丝FPGA进行性能评估及芯片速度等级的定级划分,提出了采用传输延迟参数测试法进行分析.针对反熔丝FPGA一次可编程及应用需求多样性的特点,设计了一种包含完整传输延迟影响因素的专用测试电路,该电路能对测试链路级数、布线长度、散出数等多方面进行差异化配置,从而形成了具有实用性和通用性的反熔丝FPGA性能评估解决方案.通过电路仿真及1.0μm CMOS ONO反熔丝工艺硅验证实测表明,该传输延迟测试电路能实际应用于反熔丝FPGA的产品开发.
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