半导体激光器辐照损伤效应实验研究进展

Zujun WANG, Hao NING,Yuanyuan XUE,Rui XU,Qianli JIAO,Minbo LIU,Zhibin YAO,Wuying MA,Jiangkun SHENG,Guantao DONG

Semiconductor Optoelectronics（2020）

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摘要

半导体激光器(LD)工作在空间辐射或核辐射环境中时,会受到辐照损伤的影响而导致器件性能退化.文章回顾了不同时期研制的LD(从早期的GaAs LD到量子阱LD和量子点LD)在辐照效应实验方面的研究进展,梳理了国际上开展不同辐射粒子或射线(质子、中子、电子、伽马射线)诱发LD辐射敏感参数退化的实验规律,分析总结了当前LD辐照效应实验方法研究中亟待解决的关键技术问题,为今后深入开展LD的辐照效应实验方法、退化规律、损伤机理及抗辐射加固技术研究提供理论指导和实验技术支持.

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