基于积分时间的国产红外探测器非均匀性校正算法

由于受制造探测器的半导体质量和工艺过程等因素的影响，红外探测器存在积分时间响应不均匀性。为了提高红外探测器的成像质量，有必要对其存在的非均匀性进行校正。分析了积分时间对探测器单元响应输出的影响，详细阐述了基于积分时间的非均匀性校正算法的原理，并提出了一种盲元补偿方法。将该算法用于国产640×512制冷型探测器的非均匀性校正实验，结果表明该算法对探测器的非均匀性校正具有明显的效果。