软X射线测量用电阻式薄膜量热计

介绍了一种用于软X射线辐射能量测量的电阻式薄膜量热计。利用电流的欧姆热效应对薄膜量热计的灵敏度进行了标定。在有基底薄膜的标定过程中，采用一维热扩散模型，考虑了金属薄膜向基底的传导热损失。利用电阻式薄膜量热计对聚龙一号装置钨丝阵 Z 箍缩产生的软 X 射线进行了测量，并与平响应 X射线二极管（XRD）探测器的测量结果进行了比较。实验结果表明，电阻式薄膜量热计测量的软 X 射线辐射能量和辐射功率与平响应 XRD 探测器结果在测量不确定度范围内合理地一致。