一种基于电光调制测量波片相位延迟的方法
Telecom Power Technologies（2016）
摘要
文中提出了一种基于电光调制器并且采用数字信号处理算法对波片相位延迟量及主轴角测量的系统.该方法不仅能测量双折射材料晶体的相位延迟量,同时也能测量主轴角度.该系统通过引入电光调制器,对系统的各个部件的琼斯矩阵推导,从而得到出射光的琼斯矩阵表达式,然后通过数学推导及信号处理后计算主轴角及相位延迟量.
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