海洋环境下晶体管的现场贮存可靠性研究
Semiconductor Technology（2015）
Abstract
介绍了我国海洋环境的特点及其对双极型晶体管特性的影响.基于典型近海仓库贮存环境,以具有代表性的、用量较大的中小功率晶体管为研究对象,具体分析了近海仓库贮存30～40年的双极型晶体管的性能退化情况和失效模式.研究经过了13个环节的筛选检测,统计并分析了晶体管失效情况,并以失效数目最多的筛选环节中失效的晶体管为例,进行了电学参数测试与开帽检查.研究结果表明,击穿电压、反向漏电流与电流增益是相对较敏感的失效参数.
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