范德堡和条状结构埋层电阻的测试及研究Li Peng,Wen-bin ZhaoEIECTRONICS & PACKAGING(2005)引用 0|浏览1暂无评分摘要薄层电阻经常被用于PCM以及SPICE模同时我们可以看到,随偏压的变化,JFET器件中的埋层电阻也发生相应的变化.本文研究了条形电阻和范德堡两种标准结构的电阻,同时利用2D、3D器件模拟,给出了优化电阻测试的路径和方法.更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要