基于程序频谱的缺陷定位方法
Computer Systems & Applications（2019）
Abstract
软件测试是生产可靠软件的重要保障,对测试所发现缺陷的解决可以分为缺陷定位和缺陷修改两个步骤[1],其中的缺陷定位是最耗时的.通常情况下,测试套件中成功执行的测试用例都占绝大多数,对基于程序频谱的缺陷定位方法,应该具备自主调节成功测试用例覆盖比重的能力,以提高方法的可用性.即,随着语句被成功测试用例覆盖的次数增多,该语句的覆盖次数对怀疑率的贡献度应逐渐减小,成功测试用例数的有效处理能提高缺陷定位方法的效果.基于此,本文提出EPStar(EP*)缺陷定位方法,该方法可以有效调整成功执行用例数的影响,以避免成功用例数量对缺陷定位效果的过度影响,从而提高缺陷定位的准确性,通过实验对比,说明了EP*方法比现有的几种缺陷定位方法具有更高的缺陷定位精度.
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