X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨
Guangzhou Chemical Industry（2020）
摘要
X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具.XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结果的归纳均会影响分峰结果的准确性.以一种新型复合材料-纳米零价铁活性炭(NZVI/AC)为例,通过XPS分析其去除水中Cr(Ⅵ)过程中材料表面的元素价态变化,探讨分峰过程中常见的错误对实验结果造成的影响.
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