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X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度

王乐,王永在,刘胜,许宏民,王克刚,孙计赞

Shandong Chemical Industry（2014）

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Abstract
采用X射线粉末衍射(XRD)全谱拟合的方法测量了钛白粉样品的晶粒度.选择步进式扫描采谱、结合全谱拟合法程序Top*中的基本参数法(FPA)软件全谱拟合,计算得到晶粒度参数,并与X射线粉末衍射线宽法、扫描电镜(SEM)分析结果进行对比.综合分析认为,X射线全谱拟合法计算钛白粉晶粒度无需标样、操作简便、分析快速准确,可以作为钛白粉的质量控制方法.
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