基于某型电子设备的装备测试性设计研究古兆兵,王庆民Metrology & Measurement Technology（2018）引用 0|浏览3暂无评分摘要主要分析研究了电子装备全寿命测试性工作任务和设计流程,以某型电子设备为例,详细介绍了设备级和电路板级测试接口、引脚定义设计,以及承载测试协议设计实现.更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树，研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要
