利用微波探测仪(ATMS)对在轨微波辐射计观测精度的模拟分析
Aerospace Shanghai（2018）
摘要
微波辐射计的观测精度及其对数值模式同化应用的影响评估是微波辐射计观测指标设计的重要参考.基于微波探测仪(ATMS)资料,利用三维变分同化系统模拟分析在轨微波辐射计的观测精度指标.针对ATMS观测误差特征,在其观测基础上增加均值为零、标准偏差分别为0.5,1.0,1.5,2.0K的正态随机扰动,进而获得不同精度的观测模拟值序列,然后利用Harris和Kelley的辐射资料偏差订正经验方法订正不同精度的观测资料.偏差订正后,利用三维变分同化模式(WRFDA)直接同化ATMS资料.通过2016年6月6h预报场的同化试验,评估了不同观测精度的模拟资料对数值模式的同化影响.
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