BEPCII电子环寄生模损失测量

Honglei Wang,Muyuan Wang,Jisen Yang,Peng Sha,Haiying Lin,Qiang Ma,Qunyao Wang,Zhenghui Mi,Jianping Dai,Yi Sun,Guangwei Wang,Weimin Pan

High Power Laser and Particle Beams（2019）

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摘要

BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制,但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一.针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量,主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率.测量结果表明:两种方法对比测量全环寄生模损失,结果重复可信,且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4～5倍.

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