AgCuV合金导电滑环内部缺陷产生原因分析

Tianqi HAN,Yuefeng QI,Feng WANG,Lei JIAO

Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing（2020）

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摘要

AgCuV合金导电滑环在进行超声检测时发现有内部缺陷的存在.采用化学成分分析、超声检测、金相检验、扫描电镜及能谱分析等方法对缺陷产生的原因进行了分析.结果表明:AgCuV合金导电滑环经超声检测发现的内部缺陷是裂纹,脆性的含钒第二相与AgCu合金基体的结合力弱并且易碎,在应力集中处产生了微裂纹,微裂纹沿着第二相与基体结合力弱的部位扩展,最终导致AgCuV合金导电滑环内部缺陷的产生.

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