新生儿低血糖与脑损伤的相关分析

目的 探讨新生儿低血糖( Neonatal hypoglycemia)的危险因素(Risk factors),以减少脑损伤(Brain damage)的发生.方法 回顾性分析276例新生儿低血糖患儿的临床资料,并对低血糖水平、低血糖持续时间及症状性低血糖发生脑损伤的关系进行分析.结果 早产儿、小于胎龄儿、窒息缺氧、感染、母亲糖尿病、母亲异常糖耐量试验阳性是低血糖性脑损伤发生的主要危险因素(P＜ 0.05,OR＞1,95％CI＞1),其OR值及95％CI分别为2.52( 1.13～3.23)、2.37( 1.21 ～ 3.16)、2.08( 1.56～3.74)、1.78( 1.47 ～ 3.89)、2.45( 1.43～3.84)、1.84( 1.33～3.06).276例新生儿低血糖患儿中脑损伤42例(15.2％)；脑损伤与低血糖水平呈负相关(r=-0.04,p＜0.05),与低血糖持续时间呈正相关(r=0.05,P＜0.05).血糖水平越低、持续时间越长脑损伤发生率越高.结论 对高危儿应常规血糖监测,及时纠正低血糖、缩短低血糖持续时间,同时加强围生期保健知识宣教,以针对性监测、预防、治疗新生儿低血糖,进而减少脑损伤与神经系统后遗症.