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Reliability Evaluation of a 0.25 Μm SiGe Technology for Space Applications

C. Robin,S. Rochette,S. Desgrez,J. L. Muraro,D. Langrez,J. L. Roux,M. Krstic

MICROELECTRONICS RELIABILITY（2019）

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关键词
SiGe,Reliability,RFIC,Space,End user,Methodology
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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