基于STM32的漆包线漆膜软化击穿性能检测Ming-hua XIE,Ling-yun MA,Hui LIU,Wen-xi ZHANG制造业自动化(2013)引用 0|浏览1暂无评分摘要针对现有漆包线软化击穿测试系统存在的自动化程度不够,对操作员素质要求高等问题,提出了一种基于STM32作为控制器的智能软化击穿测试系统技术方案。详细介绍了该系统的软硬件结构、检测电路设计和PID控温算法的设计。测试结果表明,系统精度高及操作简单。更多AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要