存储器测试图形算法概述Jing LUO,Shining YANG,Xuemei SHI计算机与数字工程(2017)引用 0|浏览2暂无评分摘要存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。更多查看译文AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要