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Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy.

Knut Mueller-Caspary,Tim Grieb,Jan Muessener,Nicolas Gauquelin,Pascal Hille,Joerg Schoermann,Johan Verbeeck,Sandra Van Aert,Martin Eickhoff,Andreas Rosenauer

Physical Review Letters（2019）

引用 35|浏览67

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