使用背照减薄型CCD的色散型超光谱成像光谱仪中近红外波段干涉条纹现象的研究与校正

使用背照减薄型CCD器件的色散型超光谱成像光谱仪在近红外波段会出现条带状干涉条纹，严重影响其在近红外波段附近的光谱分辨率。为解决该现象，建立了类似于法布里-珀罗干涉仪的多光束干涉模型，估算出700～900 nm范围内干涉条纹的强度分布并以实测数据对该模型进行了验证，分析了CCD光敏区厚度和干涉现象之间的关系。在此基础上，采用包括频域滤波在内的改进的平场校正算法，对干涉条纹的图像进行了校正，在751.83～1010.04 nm的范围内，校正效率达到96.6％，试验结果表明，该算法可有效的消除超光谱成像光谱仪近红外波段上的干涉条纹现象，提高光谱分辨率。