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Development of structure analysis method of perovskite-type oxide thin film from surface X-ray scattering data

Masato Anada, Yoshinori Nakanishi-Ohno,Masato Okada,Tsuyoshi Kimura,Yusuke Wakabayashi

The Japan Society of Applied Physics（2017）

引用 23|浏览3
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关键词
thin film,perovskite-type,x-ray
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