盲元作为红外焦平面可靠性分析手段的探讨

红外焦平面器件广泛应用于国防安全、空间探测、环境监测、工业控制等各个领域，但是由于量少价高的特点，可靠性成为其技术发展的主要瓶颈之一。盲元是红外焦平面的失效像元，是对器件工作特性的反映，因此，可以用作可靠性评价和失效分析手段的重要参数。以出厂时间为界，将盲元分为初始盲元和使用盲元，并分析了其类型、性质、数量、位置及分布等方面的特征。根据红外焦平面器件结构特点，从探测器、互联铟柱和读出电路三个方面分析了盲元形成原因，全面探讨了盲元分析在研究器件损伤应力、失效位置、损伤机理上的应用，以及准确评价器件性能和提高盲元剔除精度的可行性，为器件结构的优化和工艺的改进提供了支撑。