CPU中可伸缩低开销的硬件调试器设计
Microelectronics & Computer（2004）
摘要
介绍了一种基于JTAG的片上调试的低开销、可伸缩、支持"非侵入性"调试的硬件实现方法.该实现方法是通过在片上调试模块中引入一组映像寄存器,用于跟踪和设置CPU的状态.使用该方法避免了在CPU的关键路径上插入扫描链而限制了CPU性能提高的缺点.此外,本文还阐述了精确硬件断点的实现方法,调试模块实时监视数据地址总线和指令地址总线,当地址与预设值吻合时使CPU进入调试模式,该实现方法支持在程序全速运行时在断点处进入调试模式.本文所提出的方法已经在CK520嵌入式CPU中得到应用和证明.
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关键词
Delay Fault Testing,Low-Power Testing,System-on-a-Chip Test,Embedded Cores,GPU Computing
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