红外探测器的高频测试

研究了长波8～15 μm波段,阻值大于440 Q MCT光导红外探测器,探测率在10 kHz,14μm大于4×1010 cm·Hz1/2/W,在1 kHz和10 kHz中心频率下的噪声测试,中波5～8 μm红外光伏型InSb器件,探测率在25 kHz,8.26 μm大于1×1011 cm·Hz1/2/W,在1 kHz和255 kHz中心频率下的噪声测试,并对器件信号进行了测试.信号和噪声测试是在124A锁相放大器测试系统测试,对124A测试系统的不确定度进行了分析,并与动态信号分析仪35670A对器件在0～50 kHz频谱范围的噪声进行了测试和比较.实验结果表明,高阻值的光导器件在1 kHz和10 kHz中心频率下噪声相差约1.4倍,光伏型InSb器件在1 kHz和15 kHz中心频率下噪声相差约1.5倍,信号测试结果在1 kHz下和3 kHz中心频率下变化不超过3％.通过测试和比较,对高频下的测试给出了建议.