GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理
Electronic Product Reliability and Environmental Testing（2002）
摘要
从可靠性物理的角度,深入分析了引起砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)逞化或失效的主要失效模式及其失效机理,明确了GaAs MMIC的可靠性问题主要表现为有源器件、无源器件和环境因素等引入损伤退化,主要的失效部位是MMIC的有源器件.
更多查看译文
关键词
basic failure modes,gaas,mmic
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要