偏钒酸钠对大鼠学习记忆及纹状体神经细胞凋亡影响

目的 观察偏钒酸钠亚慢性经口染毒所致大鼠学习记忆损伤情况,探讨其对纹状体神经细胞凋亡的影响.方法 无特定病原体级健康雄性SD大鼠32只,随机分为对照组及低、中、高剂量组,每组8只. 分别予质量浓度为0.0、0.5、1.0、2.0 g/L偏钒酸钠水溶液经口饮水染毒3个月后,采用Morris水迷宫实验测试大鼠学习记忆能力,分离大鼠纹状体观察神经细胞形态学改变并以流式细胞仪检测其神经细胞凋亡率. 结果 对照组和低、中、高剂量组大鼠平均逃避潜伏期分别为(37.43 ±8.82)、(45.71 ±12.44)、(59.74 ±22.91)、(68.45 ±12.06) s;中剂量组大鼠逃避潜伏期高于对照组(P<0.05),高剂量组大鼠逃避潜伏期分别高于对照组和低剂量组(P<0.05). 4组大鼠穿越平台次数中位数( M)分别为3.5、3.0、2.0和2.0 次;中和高剂量组穿越平台次数均低于对照组( P<0.05). 4组大鼠脑纹状体神经细胞早期凋亡率M分别为2.15%、5.45%、9.50%和13.55%,晚期凋亡率M分别为0.05%、0.15%、0.35%和0.75%,总凋亡率M分别为2.35%、5.60%、9.80%和14.65%;中和高剂量组纹状体神经细胞早期凋亡率、总凋亡率均分别高于对照组( P<0.05). 病理组织学检查结果显示:大鼠纹状体组织疏松、水肿、空泡变性,可见细胞凋亡形态. Spearman相关分析显示:钒染毒大鼠的逃避潜伏期与纹状体神经细胞早期凋亡率和总凋亡率均呈正相关[Spearman相关系数(rS)分别为0.615和0.565,P<0.05];穿越平台次数与纹状体神经细胞早期凋亡率和总凋亡率均呈负相关(rS 分别为-0.450和-0.483,P<0.05). 结论 偏钒酸钠可通过介导纹状体神经细胞凋亡增加而损伤大鼠学习记忆能力.