“多塔”3D-SIC的量子粒子群测试调度方法

Xiaole Cui,Wenming Wang, Min Miao,Yufeng Jin

Jisuanji Fuzhu Sheji Yu Tuxingxue Xuebao/Journal of Computer-Aided Design and Computer Graphics（2017）

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摘要

针对多塔结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以获取全局最优解.最小化终堆测试时间和集成过程总测试的调度结果均表明,该方法可显著地缩短测试时间;当复杂晶片集成在3D-SIC底层时,终堆测试时间较短,而集成过程的总测试时间较长.

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关键词

Final stack,Multi-tower 3D-SICs,Partial stack,QPSO,Test scheduling

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