Volume Source Peak Efficiency Determined by Integration of Disk Source Peak Efficiency.

標準面線源を用いてGe半導体検出器からの距離を変数とする面線源に対するピーク効率を求め, それを積分することによって任意の厚さと媒体の容積線源に対するピーク効率を計算する方法を検討した。従来の標準容積線源を用いる方法に比べて, この方法の長所は次のとおりである。正確な位置 (高さ) 決めと高い均一性のためピーク効率の精度が高い。1個の標準面線源を用いて, 任意の媒体の容積試料に適用できる。また, 線源の保管やコストの点でも有利である。なお, 容積線源におけるサム効果の補正に関する問題点が明らかになった。