Компьютерный анализ АСМ-изображений системы нанопор на поверхности структуры SiO2/Si, полученных методом имплантации ионами цинка

В. Н. Соколов, О. В. Разгулина, В. В. Привезенцев,Д. В. Петров

Известия Академии наук СССР. Серия физическая(2014)

Cited 23|Views0
No score
Key words
структуры sio2/si,полученных методом
AI Read Science
Must-Reading Tree
Example
Generate MRT to find the research sequence of this paper
Chat Paper
Summary is being generated by the instructions you defined