キャリア分離法を用いた high-k stack ゲート絶縁膜のキャリア伝導及び絶縁性劣化機構の解析亘 水林,直樹 安田,健治 岡田,裕之 太田,剛 堀川,邦彦 岩本,俊秀 生田目,秀喜 佐竹,明 鳥海mag(2005)引用 23|浏览4暂无评分关键词high kAI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要