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在清言上使用

A Comparison of Reaction Rate Calculations Using Endf/B-Vii with Critical Assembly Measurements

C. Wilkerson, M. Mac Innes,D. Barr,H. Trellue, R. MacFarlane,M. Chadwick

INTERNATIONAL CONFERENCE ON NUCLEAR DATA FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOL 2, PROCEEDINGS(2008)

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