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Channel Strain Characterization in Embedded Sige by Nano-Beam Diffraction

J. Li, A. Lamberti,A. Domenicucci,L. Gignac,H. Utomo,Z. Luo,N. Rovedo,S. Fang, H. Ng,J. Holt,A. Madan,C. W. Lai,J. H. Ku,D. Schepis,J. -P. Han, M. Lagus

SIGE, GE, AND RELATED COMPOUNDS 3 MATERIALS, PROCESSING, AND DEVICES（2008）

引用 7|浏览4

关键词

Electrical Characterization

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

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