GaN-HEMTエピ構造最適化によるオフ電流低減(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)敦史 山田,剛三 牧山,俊裕 多木,雅仁 金村,和清 常信,健治 今西,直紀 原,俊英 吉川mag(2009)Cited 23|Views2No scoreAI Read ScienceMust-Reading TreeExampleGenerate MRT to find the research sequence of this paperChat PaperSummary is being generated by the instructions you defined