29pAU-4 短チャネルシリコンMOSFETにおけるストレス電圧による欠陥の生成とその量子ドット的輸送現象(29pAU 量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
mag（2014）
AI Read Science
Must-Reading Tree
Example
Generate MRT to find the research sequence of this paper
Chat Paper
Summary is being generated by the instructions you defined